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X射線測厚儀表面密度測量裝置

Ⅰ . 測量原理及應用特點

測量方法為射線穿透吸收測量，測量的直接物理量為面積密度（克重）。當X射線穿透材料時，射線被材料反射、散射或吸收，導致射線強度發(fā)生一定的衰減，其衰減與穿透材料的表面密度正相關。

當材料的堆積密度固定或一致時，可以通過體積密度換算（面密度=密度*厚度）來測量材料的厚度。

X射線測厚儀是一種低能量輻射裝置，可以通過電源來開啟和關閉射線。一般情況下，不需要特殊保護。

X射線測厚儀一般采用O型掃描架。

X射線測厚儀與激光位移傳感器結合，采用C型大理石掃描架衍生出X射線激光測厚機，可實現(xiàn)面密度和厚度的同時測量，可用于鋰涂層的表面密度和頭尾減薄的測量。

二．性能卓越的X射線測量傳感器

1） X射線測量傳感器是該機的關鍵核心技術，由具有20年經(jīng)驗的核探測專家打造，具有國內(nèi)罕見的高重復性和長期穩(wěn)定性。

2） X射線發(fā)射機采用雙閉環(huán)電路控制系統(tǒng)，保證輻射強度長期穩(wěn)定，測量重復性高。

3） X射線探測器采用德國前置放大電路技術，具有高信噪比。

4） X射線發(fā)射器采用特殊的狹縫射線準直通道和小光斑設計，結合高信噪比探測器和軟件算法，可以提供更高的空間分辨率精度和條紋缺陷識別。

根據(jù)實際測量需要，X射線發(fā)射器的輸出光斑設計為5*5mmΦ9mm和2*12mm。

其中2*12mm射線光斑是獨特的優(yōu)勢技術，可實現(xiàn)鋰鍍層邊緣減薄區(qū)域的尺寸測量。

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三、X射線表面密度計/測厚儀的技術特點及強大的功能模塊

1）可實現(xiàn)掃描測量、定點測量、循環(huán)定點測量、掃描與定點模式任意切換。

2）實時呈現(xiàn)單條/多條等高線、分區(qū)線、趨勢線等豐富的測量曲線，并顯示多種質(zhì)量數(shù)據(jù)。

3）基于數(shù)據(jù)庫的海量總值數(shù)據(jù)以excel格式存儲，歷史數(shù)據(jù)查詢追溯，歷史曲線重新顯示。

4）專業(yè)SPC統(tǒng)計分析，自動生成質(zhì)量報告，并可根據(jù)客戶需求定制。

5）多種過程控制解決方案，實時過程監(jiān)控、五線質(zhì)量控制、多重預警報警、超限標記。

6）支持閉環(huán)自動控制，可與客戶MES系統(tǒng)對接，可實現(xiàn)多機架點對點跟蹤測量。

7）自主研發(fā)數(shù)據(jù)采集卡和控制板卡、實時通訊系統(tǒng)和CANOPEN總線通訊傳輸，保證高速測量響應。

8）更好的易用性和友好的人機界面，一鍵式智能操作。

四、性能參數(shù)